湖南省長(zhǎng)沙市車(chē)站北路湘域智慧南塔6樓
安徽省合肥市高新技術(shù)產(chǎn)業(yè)開(kāi)發(fā)區(qū)科學(xué)大道110號(hào)新材料園F9A號(hào)樓511室
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自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng) SenSol V
名稱(chēng):涂鍍層測(cè)厚儀
品牌:
型號(hào):
簡(jiǎn)介:SenSol V 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)控制大面積垂直掃描,不帶傳感器,電池片尺寸160cmX100cm,兩個(gè)同步傳感器平臺(tái)測(cè)量R反射和T透射玻璃傳輸。 可測(cè)量膜厚、片狀電阻(接觸法/非接觸法)、絨面、禁帶寬度、結(jié)晶態(tài)、內(nèi)...
SenSol V 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)自動(dòng)控制大面積垂直掃描,不帶傳感器,電池片尺寸160cmX100cm,兩個(gè)同步傳感器平臺(tái)測(cè)量R反射和T透射玻璃傳輸。
可測(cè)量膜厚、片狀電阻(接觸法/非接觸法)、絨面、禁帶寬度、結(jié)晶態(tài)、內(nèi)部量子效率、I(V)曲線(xiàn)
Sensol –M
大面積樣品臺(tái) ,反射式測(cè)量R(λ)
玻璃上TCOs薄膜的厚度
吸收層膜厚
iZnO, ZnO:Al, SnO,
a-Si:H, μc-Si:H
CIS 和 CIGS
SenSol H
水平掃描樣品系統(tǒng)用于大玻璃平板
•霧狀
•透射光譜T(λ) 和反射光譜R(λ)
•方塊電阻:非接觸法
•方塊電阻:四探針
•膜厚測(cè)量探頭
SenSol V
垂直掃描系統(tǒng)
•絨面
•透射光譜T(λ) 和R(λ)
•片狀電阻Ω:光學(xué)法
•片狀電阻Ω:4探針
•膜厚測(cè)量探頭
•Raman 拉曼
•EQE
•I-V
商品名稱(chēng): 自動(dòng)大面積太陽(yáng)能電池薄膜垂直測(cè)量系統(tǒng)
商品型號(hào): SenSol V
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